Ostfildern  /  22.10.2018  -  23.10.2018

Seminar: Einführung in die tribologische Funktionalisierung von Oberflächen

PVD, CVD und Nitrierverfahren

Technische Akademie Esslingen

Die Minderung von Reibung und der Schutz vor Verschleiß erhöhen die Lebensdauer, Belastbarkeit und Einsatzgrenzen von Produkten aus dem Bereich des Maschinen- und Fahrzeugbaus. So steht die tribologische Funktionalisierung von Oberflächen im Fokus des von der Technischen Akademie Esslingen e.V. veranstalteten Seminars, das sowohl die Grundlagen der Tribologie vermittelt und einen Überblick über PVD- und CVD-Beschichtungsprozesse und Nitrierverfahren als auch über die Analysemöglichkeiten und Anwendungen funktionalisierter Oberflächen gibt.

Dr. Kirsten Schiffmann, Leiter der Abteilung »Analytik und Qualitätssicherung« am Fraunhofer IST beteiligt sich mit einem Vortrag am Seminarprogramm:

 

Dienstag, 23. Oktober 2018

9:45 – 12:15 Uhr

»Analyse und Prüfverfahren für tribologische Schichten«

Dr. Kirsten Schiffmann

Bei der Entwicklung neuer tribologischer Schichtsysteme ist die Anwendung von Prüf- und Analyseverfahren essentiell. Mit den Prüfverfahren werden zunächst die Anwendungseigenschaften gemessen, etwa ob ein gewünschter Reibungskoeffizient, Verschleiß-, Härte- oder Haftungswert erreicht wurde. Mit Hilfe der Analytik werden die physikalischen und chemischen Basiseigenschaften der Schichten ermittelt. Sie lassen Rückschlüsse darauf zu, warum gewünschte Prüfwerte erreicht oder nicht erreicht werden und wie ggf. Prozessparameter verändert werden müssen, um die Eigenschaften zu verbessern.

In dem Vortrag werden folgende Prüfverfahren anhand von Beispielen näher vorgestellt:

  • Schichthaftungsprüfung mittels manueller/automatisierter Rockwell Prüfung oder mittels Scratchtest
  • Härtemessung mittels Mikro- und Nanoindentierung
  • Reibungsmessung mittels Pin-on-Disk-Test
  • Abrasiv-Verschleißmessung mittels Calotest
  • Impact Tests

Anschließend werden folgende Analysemethoden mit vielen Beispielen erläutert:

  • Raster-Elektronenmikroskopie (REM): Topographie, Bruchkanten, Focussed Ion Beam (FIB)
  • Röntgenspektroskopie (EDX, WDX): Chemische Elementzusammensetzung mit hoher Ortsauflösung, Schadensanalysen
  • Sekundärionen-Massenspektroskopie (SIMS): Chemische Zusammensetzung als Funktion der Tiefe, Grenzflächen, Spurenanalytik, Wasserstoffanalyse
  • Röntgenbeugung (XRD): Kristalline Phasenanalyse, Korngrößen, Eigenspannungen